NanoMetrology2007
Metrologia per le nanotecnologie

Torino, 14-15 giugno 2007


   
 
   


Espositori


Introduzione

Sessioni tematiche
Destinatari
Call for posters
Comitato Scientifico
Lingua
   

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Abstracts
Al fine di facilitare la diffusione delle informazioni e dei contenuti discussi durante il workshop e favorire la collaborazione scientifica in questo settore è possibile scaricare gli abstracts delle presentazioni e dei contributi poster del convegno. Appena possibile verrano rese disponibili anche alcune delle presentazioni fatte nei due giorni.
Book of abstracts

Introduzione
L’interesse e l’impegno per le nanotecnologie e le loro applicazioni è destinato a crescere sempre di più, ma sia l’attività di R&S che il trasferimento a livello industriale di nuovi prodotti e processi da esse derivati, si scontra con la mancanza di un quadro di riferimento consolidato dal punto di vista della misurazione a livello nanometrico, di standard e normative riconosciuti. La soluzione di questo problema, reso ancor più complesso dal carattere multidisciplinare e multisettoriale delle nanotecnologie, è fondamentale. Non a caso la nanometrologia è tra gli obiettivi di ricerca prioritari del 7° Programma quadro della UE.

Il confronto e la collaborazione tra comunità scientifica e industria diventa una leva essenziale per individuare le problematiche cruciali nei diversi ambiti produttivi e mettere in evidenza le risposte che la ricerca può dare o i temi sui quali questa dovrebbe/potrebbe impegnarsi.

Il workshop organizzato nel 2004 da AIRI/Nanotec IT ed INRiM su questo tema rispondeva a questa esigenza ed il successo ottenuto, propiziato dell’elevato contenuto degli interventi, dalla varietà della partecipazione e per l’opportunità di contatti offerta, ha suggerito di riproporre l’iniziativa.

Il nuovo evento sarà basato in primo luogo su esperienze ed esigenze industriali, ed avrà un approccio prettamente application-oriented.
Sono previsti contributi di esponenti della industria e della ricerca pubblica nazionali ed anche di alcuni selezionati esperti internazionali, che consentiranno di fare il punto su stato dell’arte e possibili innovazioni inerenti le tecniche ed i metodi di misura, la strumentazione ed i campioni.
Particolare attenzione verrà data ai settori di maggior interesse in ambito nazionale, nell'intento di promuovere sinergie e collaborazioni.
Il programma prevede anche interventi sulle problematiche connesse alla sicurezza ed un aggiornamento sugli orientamenti attuali per ciò che riguarda regolamentazione e normative.

Sessioni tematiche

  • Nanofabbricazione, Tecniche top-down, Nanoelettronica, Dispositivi Quantici
  • Metrologia a scala atomica, Superfici e strati sottili
  • Materiali nanostrutturati, Nanocompositi, Nanoparticelle
  • Tecniche interdisciplinari

Destinatari
Molti sono coloro che potranno trarre vantaggio dalla partecipazione al Convegno.
I ricercatori pubblici potranno individuare potenziali tematiche di ricerca su cui puntare, i ricercatori privati potranno acquisire informazioni sullo stato dell'arte della ricerca e su altre esperienze industriali, i produttori e distributori di strumentazione, i rappresentanti di organismi di controllo e normazione, i pianificatori (nelle imprese e pubblici) troveranno indicazioni circa gli sviluppi e la definizione di metodologie, di standard e processi produttivi, utili per indirizzare le loro scelte strategiche.

Call for posters
Al fine di ampliare lo spettro ed il numero dei contributi e favorire la discussione ed il confronto, è prevista una sessione poster che i partecipanti al convegno potranno visionare durante tutto il workshop.
Coloro che sono interessati ad esporre un poster dovranno far pervenire un abstract che illustri i contenuti del loro contributo alla segreteria del Convegno non oltre il 11 maggio 2007.
Per la compilazione dell'abstract si prega di usare l'apposito template di riferimento:
(scarica il template)

Indicazioni per la compilazione:

- L'abstract deve essere in inglese;
- Può essere inserita una figura in bianco e nero;
- Devono essere chiaramenti indicati i riferimenti della persona di contatto;
- L'abstract con il titolo ed i riferimenti non deve superare una pagina di lunghezza (verdana, font 10).

L’eventuale accettazione verrà comunicata agli interessati entro il 25 maggio 2007. L’abstract dei poster accettati sarà incluso negli atti del programma.


Comitato Scientifico

  • Stefano Bellucci, INFN - Laboratori Nazionali di Frascati
  • Anna Maria Fiorello, Selex Sistemi Integrati
  • Massimo Gentili, Pirelli Labs
  • Gianfranco Innocenti, Centro Ricerche Fiat
  • Elvio Mantovani, Airi / Nanotec IT
  • Andrea Di Matteo, STMicroelectronics
  • Marco Peloi, Sincrotrone Trieste
  • Gian Bartolo Picotto, INRiM
  • Andrea Porcari, Airi / Nanotec IT
  • Roberto Zamboni, CNR / ISMN, Bologna

Lingua
English will be the official language of the Conference.

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