Associazione Italiana
per la
Ricerca Industriale

TORINO, 12 e 13 maggio 2004

Il 12-13 Maggio 2004 si sono tenute a Torino (Villa Gualino) due Giornate di Studio sul tema "Metrologia per le nanotecnologie", organizzate da Nanotec IT/AIRI in collaborazione con l' Istituto di Metrologia G. Colonnetti (IMGC - CNR) e l' Associazione Piccole e Medie Imprese di Torino e Provincia (API) e con la sponsorizzazione di Centro Ricerche FIAT (CRF) e EniTecnologie.

Il workshop, in italiano eccetto per le invited talks, ha affrontato le tematiche della metrologia delle superfici (2-D e 3-D) e della metrologia a scala atomica alla luce delle esigenze di misura che emergono nelle nano (micro) tecnologie.

Lo scopo è stato quello di approfondire lo stato dell’arte e delle possibili innovazioni per le tecniche e i metodi di misura, la strumentazione e i campioni, parallelamente alle specifiche esigenze di misura che emergono in ambito industriale in questo settore nell’intento di promuovere sinergie, collaborazioni e reti tematiche che riguardino ricerca, innovazione e produzione.

Le due giornate, alla definizione del programma delle quali l’Istituto di Metrologia G.Colonnetti del CNR ha dato un contributo determinante, prevedevano relazioni plenarie, interventi dal mondo delle imprese e delle istituzioni di ricerca e discussioni di approfondimento.

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